Rasterkraftmikroskop JPK SENSE SPM
Universität Innsbruck
Kommerzielles Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Abbildung von Oberflächen mit hoher Genauigkeit. Messungen sind an Luft und...
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Oberflächenabb. und Charakterisierung mechanischer und elektronischer Oberflächeneigenschaften
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Das ZEISS EVO 10 bietet erstklassiges Imaging von leitfähigen Proben im High-Vacuum-(HV)-Modus für Proben bis...
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Tescan Clara Scanning Electron Microscope zusätzliches Equipment: - OnPoint Detector (GATAN) - Ultim Max EDS...
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Rasterelektronenmikroskop mit EXD zur Strukturaufklärung
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JSM-7610F - FE-REM Schottky Feld Emissions Rasterelektronenmikroskop für Nanotechnologie Mit dem Rasterelektronenmikroskop können kleinste Strukturen...
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Das Senterra Imaging Gerät dient zur Aufnahme von Raman-Spektren mit einer Auflösung von wenigen Mikrometern...
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Laser zur Messung von CH4, N2O, CO, COS und H2O in Umgebungsluft
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Liquid nitrogen cooled Prodigy TCI probe for 700 MHz Avance Neo NMR: Prodigy probes deliver...
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The DLC pro is a platform driving all tunable diode lasers of TOPTICA. One controller...